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  • TH511 半導體C-V特性分析儀
    TH511 半導體C-V特性分析儀

    更新時(shí)間:2023-11-30訪(fǎng)問(wèn)量:245
  • TH512 半導體C-V特性分析儀
    TH512 半導體C-V特性分析儀

    更新時(shí)間:2023-11-30訪(fǎng)問(wèn)量:233
  • TH513 半導體C-V特性分析儀
    TH513 半導體C-V特性分析儀

    ■ 一體化設計:LCR+VGS低壓源+VDS高壓源+通道切換+上位機軟件■ 單管器件(點(diǎn)測)、模組器件(列表掃描)、曲線(xiàn)掃描(選件)三種測試方式■ 四寄生參數(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg)同屏一鍵測量及顯示■ 標配2通道,可擴展至6通道,可測單管、多芯或模組器件(TH513僅1通道)■ CV曲線(xiàn)掃描、Ciss-Rg曲線(xiàn)掃描■ 電容快速充電技術(shù),實(shí)現快速測試■ 接觸檢查Cont■ 通斷測試OP_SH■ 自動(dòng)延時(shí)設置■ 柵極電壓VGS:0 - ±40V■ 漏極電壓VDS:0 - ±3000V■ 10檔分選

    更新時(shí)間:2023-11-30訪(fǎng)問(wèn)量:283
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